Actividad para el martes

Ya pueden consultar el documento sobre difracción. Todas estas actividades las realizaremos antes de emprender nuestro proyecto mensual.

Prueba de la navaja de Foucault:

En esta sesión se estudió el fenómeno de Schlieren, utilizando una navaja de Focault, una lámpara colimada, un diafragma, una lente positiva, un doblete, y un espejo esférico. Este fenómeno se refiere a la formación de imágenes con lentes, y tuvo un resultado satisfactorio.

Primero se usó la lente positiva con la configuración como se aprecia en la imagen (colocando la pantalla al final y la lámpara al principio del arreglo). Se coloca la navaja en posición horizontal a una distancia anterior al foco de la lente positiva, moviéndolo gradualmente hacia, y pasando el foco. En distancias anteriores al foco, se deja de observar la parte superior de la imagen. En el foco, no se observa imagen, sino un efecto muy apreciable de aberración cromática. Pasando el foco, se deja de observar la parte inferior de la imagen. En puntos cercanos y anteriores al foco se dispersa hacia el color azul, y en puntos cercanos posteriores al foco se dispersa hacia el rojo.

Después se usó el doblete, y en este también se observa el mismo efecto al acercar la navaja. Cuando la navaja está antes del foco entonces la imagen la imagen en la pantalla estaba arriba, al pasar por el foco se tapaba toda la imagen y si se seguía hasta estar después del foco entonces se tapaba abajo. Lo único realmente diferente es que con esta lente no se veía la aberración

Finalmente, se usó un espejo esférico. Con este fue mucho más complicado pues no podría ser una configuración lineal y era difícil tapar la imagen sin tapar la lámpara. En este caso, el espejo no tiene un índice de refracción definido, por lo que no se ve aberración cromática. Sin embargo, se tiene otro tipo de aberración; cuando ponemos la navaja en un plano horizontal, observamos que el foco no coincide con el foco del caso vertical. Esta aberración es astigmatismo, producida por reflexión esférica.

Ajustes para el proyecto 2:

Que tal colegas, los ajustes en la rúbrica para el proyecto 2 son:

• La extensión, al menos 3 máximo 5  hojas.
• El número de referencias, deben ser al menos 5.

Actividad para el jueves

Ya pueden consultar el documento para nuestra actividad del jueves.

Actividad para el martes

Ya pueden ver el documento para nuestra actividad del martes.

Se trata de que practiquen usando lentes, construyan un par de aparatos ópticos y que vivifiquen la validez del la ecuación de las lentes delgadas.

Todo esto nos dará practica para el instrumento óptico que construiremos en clase.

Entrega Proyecto 2:

Que tal Colegas excelente inicio de semana, nada para saludarlos y formalizar la fecha de entrega del proyecto 2, es el 30 de septiembre antes de la 18:00hrs. Si tienen dudas sobre el contenido del trabajo díganlas en el transcurso de estos días haremos todo lo posible por contestarlas :)

Actividad para el jueves: Caracterización de placas retardadoras

En este documento pueden consultar las actividades que realizaremos sobre polarización elíptica y placas retardadoras (Marcado en el texto como experimento 4) Ya han realizado una parte, falta concluir.

3era. Sesion: Medición del índice de refracción por medio de una placa plano paralela

El montaje experimental realizado en la sesión consta de varias partes:

1) El láser del laboratorio como fuente de luz coherente. 2) Una base graduada en grados para medir los ángulos de inclinación de las muestras a medir. 3) dos diafragmas para alinear el haz láser 4) Una lámina de madera para medir la desviación de la luz una vez colocada una muestra de material translúcido.

Al obtener las medidas del grosor de la muestra a medir, una serie de medidas de las distancias entre las posiciones del láser con respecto a la medida del ángulo girado y una variación de la distancia de la muestra hacia la lámina de madera es posible obtener datos experimentales para buscar el índice de refracción n de acuerdo a la siguiente fórmula:

,

donde el ángulo de incidencia θi es obtenido mediante una medición directa utilizando la base giratoria graduada del sistema.